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 産業技術

中古情報

 
    下記中古情報で詳細写真と主な仕様が確認できます。

SEM(走査型電子顕微鏡) JEOL製(日本電子)  型式:JSM-5600LV
AFM(原子間力顕微鏡) di製  型式:Dimension8100
 

SPM(走査型プローブ顕微鏡) JEOL製(日本電子)  型式:JSPM-5200

FIB(走査型イオン顕微鏡)  SII製   型式:SMI3200

FIB(集束イオンビーム装置)  SII製   型式:SMI9800

走査型電子顕微鏡(SEM) 走査電子顕微鏡 JEOL製/キーエンス製 

STMAFMSPM    情報はお問い合わせ下さい。

在庫状況が頻繁に変動する為、記載の無い物についても
在庫、取扱いがあります。お気軽にお問い合わせ下さい。

 
   

  電子顕微鏡SEM (走査型電子顕微鏡)
  
日本電子製(JEOL)   型式JSM-5600LV

       
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  原子間力顕微鏡 (AFM)
  
di製   型式:Dimension8300

       
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  SPM(走査型プローブ顕微鏡)
  
JEOL製(日本電子)   型式:JSPM-5200

       
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  FIB(走査型イオン顕微鏡)
  
SII製   型式:SMI-3200


       
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  FIB(走査型イオン顕微鏡/集束イオンビーム装置)
  
SII製   型式:SMI-9800


       
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  走査型電子顕微鏡(簡易型SEM)
  
KEYENCE製

 
 
       
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